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產(chǎn)品中心測(cè)試系統(tǒng)益和測(cè)試系統(tǒng)
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中國(guó)臺(tái)灣益和 62XX+6632 直流偏流源測(cè)試系統(tǒng) MICROTEST DC Bias 6210、6220、6240 獨(dú)家擁有內(nèi)部溫升掃描功能，透過(guò)掃描功能得到線圈內(nèi)溫度升高的參數(shù)，不再受限於空間過(guò)小導(dǎo)致量測(cè)數(shù)值非常困難。溫升掃描功能可以讓工程師瞭解線圈上加了電流以後，溫度爬升的狀況，就能立即知道元件是否會(huì)因溫度過(guò)高而燒毀。
更新時(shí)間：2025-07-08
產(chǎn)品型號(hào)：6210/6220/6240+6632
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